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Italiano
Strumento e misuratore
Diffrattometro/reflectometro multifunzione a raggi X Brooke Delta-X XRD
Rilevatore di deformazione del wafer di silicio e dello stress del film sottile
Brooke JV-QC3 diffrattometro a raggi X ad alta risoluzione XRD
Apparecchiatura continua di misurazione dello spessore del film e della resistenza a quattro sonde
caratteristica elettrica
Adesione film
Misura morfologica superficiale dei wafer di silicio
Sistema di misurazione dello spessore delle cialde
Tester di curva I-V
preamplificatore sensibile alla carica
Sonda microscopica a forza atomica/sonda AFM
Rilevatore di stringhe fotovoltaiche 1500V
Rilevatore fotovoltaico conveniente
Ha's groove
Piastra di Ha (piastra di ottone)
Elenco dei modelli di sonda comunemente usati per il microscopio atomico della forza Bruker
Ha's slot raddrizzator
Servizi di prova - Introduzione
processore di impulsi digitali
sacchetto filtro
Successful operation!
